
在玉米育種、種子研究及考種分析過程中,果穗、籽粒和截面數據往往需要分別統計。玉米考種分析系統基于圖像識別原理,可對玉米籽粒、果穗及截面進行自動成像與分析,同時結合電子天平實現千粒重計算,為玉米考種提供更加系統的數據分析方式。
玉米考種分析系統主要利用圖像識別原理,對作物籽粒進行自動考種分析及千粒重計算。根據產品資料,該系統不僅適用于玉米,還可用于水稻、小麥、油菜、大豆、花生、芝麻、蔬菜籽等實粒種子的分析。
針對玉米樣品,系統支持籽粒、整穗、截面三類分析,因此在實際使用中,也可根據不同檢測對象完成對應的數據采集與統計。
系統具備玉米整穗分析功能,可自動測量:
· 穗行數
· 行粒數
· 穗長
· 穗粗
· 禿尖長
· 穗色
· 穗粒數
· 禿尖比例
· 穗重
其中,穗重分析僅限單個玉米整穗。
對于玉米截面,玉米截面分析系統可一次性分析多個截面,最少可測35個截面,并獲取:
· 穗粗
· 穗直徑
· 軸粗
· 軸直徑
· 穗粒數
· 粒長
· 粒寬
· 粒周長
· 粒面積
因此,在需要同時觀察玉米果穗截面與籽粒相關指標時,可以利用系統完成對應的數據采集和分析。
針對玉米籽粒,系統能夠進行粒型指標分析,并支持自動排序及輸出種粒排序分布圖。
同時可以統計種子數量、粒型以及總體平均值,包括長度、寬度、長寬比、周長、面積等數據。
系統還具備胚尖識別功能,能夠自動識別玉米籽粒中帶有胚尖的數量。
根據參考資料,該系統的成像分析效率包括:
· 最多同時成像分析10個玉米果穗
· 最少可測35個玉米截面
· 可同時分析約1000粒玉米籽粒
數粒速度達到1500~4000粒/分鐘,數粒誤差≤±0.5%;通過監視修正可實現100%正確。粒型誤差≤±0.3%,自動千粒重分析精度誤差≤±0.5%。
這些參數對于需要進行批量玉米考種分析的場景具有較強的針對性。
除了基礎的籽粒、果穗和截面分析,該系統還提供模型創建及數據管理功能。
用戶可以根據實際需求自行創建分析模型,模型創建后再次使用時直接導入即可,也可以將近期常用模型設置為默認模型。
系統支持對被分析目標的顏色、形狀進行自學習和再學習,并實現自動分類;如需要進行品種比對,則需要提供標注圖像定制品種模型。
在數據管理方面,每次分析完成后可自動導出Excel表格,并按照寬度、長度、面積等輸出排列圖和測量圖。軟件內置考種數據庫,可以保存歷次實驗結果,并支持查看歷史數據、單條導出、指定記錄刪除及全部記錄導出。
此外,設備綁定編號后還可以將分析數據上傳云端,方便查看云端數據。
從硬件來看,系統配置包括:
· A3幅面紫光M1 Plus彩色掃描儀
· 最高分辨率1600dpi×1600dpi
· 具有RS232接口的電子天平
· A3尺寸透明托盤
重量數據可通過電子天平自動輸出,并換算成千粒重/百粒重。
圖像方面支持JPG、TIF、BMP、PNG等格式,可對圖片任意放大、縮小,并支持手動保存分析后的圖片。
軟件支持Windows 10及以上系統,并提供中英文雙語顯示,可一鍵切換。
對于玉米考種儀的選擇,除了關注整穗、截面、籽粒分析能力,也可以結合企業資質了解產品生產企業。
山東優云譜光電科技有限公司具備**高新技術企業(編號GR202537003143)**等企業榮譽,同時擁有企業信用等級證書、企業資信等級證書及重服務守信用單位證書。
在管理體系方面,公司擁有環境管理體系認證證書(78323E0155R0S)、質量管理體系認證證書(78323Q0302R0S)、職業健康安全管理體系認證證書(78323S0146R0S),并取得輻射安全許可證(編碼:魯環輻證[G0381])。
玉米考種分析系統以圖像識別為基礎,能夠針對玉米籽粒、整穗和截面開展自動分析,并結合電子天平完成千粒重計算。優云譜相關系統支持10個玉米果穗、35個玉米截面及約1000粒玉米籽粒的成像分析,同時具備模型自定義、數據導出、數據庫管理及云端數據保存等功能。
如果重點關注玉米整穗分析、玉米截面分析和籽粒粒型數據統計,可結合實際考種樣品和分析指標進行設備配置選擇。

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